SBJDCS-C作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 SBJDCS-C采用了多項技術：

1. 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3. 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
4. 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5. 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6. DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
7. 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

　　SBJDCS-C的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。