您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
14產(chǎn)品分類品牌分類
-
鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
介質(zhì)的損耗形式
今天來(lái)介紹一下什么是極化損耗和電離損耗？
當(dāng)介質(zhì)產(chǎn)生極化時(shí)，有幾種極化形式可以引起介質(zhì)損耗，例如松弛極化所造成的介質(zhì)損耗就比較大，這種損耗發(fā)生在偶極子式結(jié)構(gòu)電介質(zhì)和在離子晶格不緊密的離子結(jié)構(gòu)電介質(zhì)中，它是由于粒子（偶極子或離子）在電場(chǎng)力的影響下克服熱運(yùn)動(dòng)引起的。
根據(jù)松弛極化機(jī)制，松弛極化建立的時(shí)間較長(zhǎng)，約為10-2-10-3秒，因此極化所造成的電矩往往滯后于外加電場(chǎng)，這就是造成損耗的原因。
在電介質(zhì)兩邊加上交變電壓時(shí)，如果外加電壓頻率較低，介質(zhì)中極化都跟上外電場(chǎng)變化，則由極化引起的極板電荷正比于外加電壓的瞬時(shí)值。即電壓達(dá)大值時(shí)，極板電荷也達(dá)大值；電壓降為零時(shí)，極板電荷也變?yōu)榱悖浑妷悍聪驎r(shí)，極板電荷也跟著反向。因此外加電壓變化一周時(shí)，極板電荷為零，恢復(fù)原來(lái)狀態(tài)，不產(chǎn)生極化損耗。
當(dāng)外加電壓頻率較高時(shí)（即松弛極化建立的時(shí)間大于外加電壓變化周期四分之一），極化跟不上電場(chǎng)變化，即電壓達(dá)到大值時(shí)，極化尚未建立，有極化引起的極板電荷也未達(dá)到大值，外加電壓開(kāi)始減小時(shí)，極化仍然繼續(xù)增大至大值后才減小。極板電荷也是這樣，當(dāng)電壓降至零時(shí)，極化尚未消除，極板電荷不能降至零，仍然遺留有部分電荷，當(dāng)外電場(chǎng)反向時(shí)，基板上遺留的部分電荷中和了電源對(duì)極板充電的部分電荷，并以熱的形式發(fā)出，于是產(chǎn)生了能量損耗。
電離損耗的介紹如下：
電離損耗（又稱游離損耗）是由氣體所引起的，含有氣孔的固體介質(zhì)在外加電場(chǎng)強(qiáng)度超過(guò)了氣孔氣體電離所需要的電場(chǎng)強(qiáng)度時(shí)，由于氣體的電離吸收能量而造成損耗，這種損耗成為電離損耗。
電離損耗的功率可以用于下式近似計(jì)算
P=Af(V-V0)2 (4.2-65)
式中，A為常數(shù)；f為頻率；V為外施電壓；V0為氣孔內(nèi)氣體的電離電壓。
上式只有當(dāng)V＞V0才適用。當(dāng)外電壓超過(guò)V0時(shí)，隨著外電場(chǎng)電壓的增加，介質(zhì)的損耗急劇增大，利用這一特點(diǎn)，我們可以判斷介質(zhì)是否含有氣孔。