Micro Pioneer XRF-2000鍍層測厚儀

檢測電子及五金電鍍,電路板,LED支架,端子類電鍍層厚度

主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

可測單層,雙層,多層及合金鍍層厚度

儀器配置

全自動臺面

自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）

測量樣品高度L型3cm內，H型12cm內

長寬均為55cm

鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)

(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)

合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等

測量時間：10－30秒

規格型號如下圖
 

Micro Pioneer XRF-2000鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

可測單層,雙層,多層,合金鍍層

測量范圍:0.03-35um

測量精度:±5%,

測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度

全自動臺面,操作非常方便簡單