XRF-2020L膜厚儀功能及原理

XRF-2020系列系統利用了當一個樣品被x射線輻射照射時，樣品的原子被激發的現象。當原子恢復到穩定狀態時，它們會發出x射線光子。每個元素都有其不同的特征發射線。這些能量被記錄在系統中，并存儲于計算機。通過將獲得的光譜中的元素線與系統數據庫中列出的相應元素線進行比較，來確定給定樣本的元素。

在獲得的光譜中，元素線的強度（幅度）與其濃度或厚度有關。增加元素的濃度或厚度結果是該元素的熒光輻射特性強度的增加。通過使用經驗或理論的物理模型，該系統可以提供精確的定性和定量的分析或厚度測量。

韓國MicropioneerXRF-2000/XRF-2020

功能及應用:

快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測量范圍0.02-35um

鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀

XRF-2020測厚儀規格

XRF-2020L型:

測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:

測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

XRF-2020L膜厚儀功能及原理

原產地：韓國

型號：XRF-2020系列

功能及應用:

快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測量范圍0.02-35um

鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀