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X射線鍍層測厚儀
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
X射線鍍層測厚儀,測量電鍍層厚度,如電鍍或化學鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.
XRF2000電鍍鍍層測厚儀
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺
可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。
可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統：液晶顯示器，彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
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