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QuaNix keyless/keyless膜厚儀（記憶型）
零位穩定：所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩定是測量的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保測量。
無需校準：多數測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統誤差。
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術：使得測量重復性較傳統交流技術有*的和提高。
單探頭量程大：0－5mm。
QuaNix keyless/keyless（記憶型）膜厚儀 產品特點：
1.無需校準2.Fe/NFe兩用探頭3.自動調零4.自動開關機5.無任何按鍵6.無線傳輸迷你探頭7.可存儲3900個測量值，999個數據組（keyless記憶型）
QuaNix keyless/keyless（記憶型）膜厚儀 規格參數：
型 號 | 4200 | 4500 | 1200 | 1500 | 7500 | keyless |
基 體 | Fe | Fe/NFe | Fe | Fe/NFe | Fe、NFe、Fe/NFe | Fe/NFe |
探頭形式 | 一體 | 一體、分體 | 無線分體 | |||
顯 示 | LCD數字顯示 | |||||
測量范圍 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm | 0－2000μm | 0－5000μm | 0－2000μm 0－5000μm | 0－5000μm |
測量精度 | 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% | |||||
顯示精度 | 1μm | 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm | ||||
工作溫度 | －10 －＋60℃ | |||||
溫度補償 | 0－50℃ | |||||
存 儲 | － | 1500M型 | 7500M型 | keylessM型 | ||
| 3900個測量值，999個數據組 | |||||
數據傳輸 | － | RS232打印、電腦 | ||||
統計功能 | － | 平均值、zui大值、zui小值、標準偏差 | ||||
超限報警 | － | 上下限 | ||||
zui小基體 | 10mm×10mm | |||||
zui小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | 凸半徑：5mm，凹半徑：25mm | ||||
zui薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |||||
電 源 | 5號電池2節 | 9V堿性電池1節 | 5號電池2節 | |||
重 量 | 110g | 130g | 150g | 130g | ||
尺 寸 | 110×60×27mm | 166×64×34mm | 110×60×24mm | |||
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