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薄膜測厚儀|薄膜厚度檢測儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。
儀主要特點
接觸式測量原理
測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數據、結果
手動、循環、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內嵌zui大值、值、平均值、標準差數據統計分析功能
本機內置歷史數據查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
薄膜測厚儀|薄膜厚度檢測儀技術指標
測量范圍：0～2mm（標配）0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
執行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
產品配置
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
注：產品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權與解釋權！
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