美國GE超聲波探頭MB4F簡介

指尖探頭B..F和MB..F系列探頭：MB4F特性 與K..G和K..N探頭相類似，由于其扁平設計，它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測。經常被用作“搜索探頭”。

MB4F主要應用： 通常：對所有類型零件內部或近表面分布缺陷的探測和評估。可以用于有保護膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測。

主要特性：
1.單晶體探頭，用于超聲脈沖的發射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲備和非常好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場分辨率
6.縱波的垂直掃描

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與K..G和K..N探頭相類似，由于其扁平設計，它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測。經常被用作“搜索探頭”。
美國GE超聲波探頭MB2F主要特性：
1.單晶體探頭，用于超聲脈沖的發射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲備和好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場分辨率
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