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產品簡介
詳細介紹
恒溫恒濕試驗箱
內箱尺寸（mm）：W 1000×H 1000 ×D 1000
內容積(L)：1000L
觀察窗可視范圍（mm）：W 260×H 350 數量： 1個
溫度范圍：-20，-40，-60，－70℃～+150℃可自選
濕度范圍：20 %～98 % RH(標準型)
濕度偏差度：±3%RH
溫度波動度：±0.5℃
升溫速率: RT+10℃ ~ +150℃≤45 min 升溫平均2.5~3℃/min
降溫速率: RT+10℃ ~ -70℃ ≤90 min 降溫平均0.8~1℃/min
溫 度 偏 差：-40 ℃～100℃之間±1℃以內/-40 ℃以下；100℃以上±1.5℃以內
執 行 標 準：
中國國家標準分為強制性國標（GB）
和推薦性國標（GB/T）
中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件
中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件
中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件
電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱
電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷
電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3
日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法
中國國家軍用環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗
艦船電子設備環境試驗， GJB4-2-83 高溫試驗
艦船電子設備環境試驗， GJB4-3-83 低溫試驗
艦船電子設備環境試驗， GJB4-4-83 低溫儲存試驗
艦船電子設備環境試驗， GJB4-5-83 恒定濕熱試驗
艦船電子設備環境試驗， GJB4-6-83 交變濕熱試驗
滿 足 標 準：GB/T5170.2-1996 溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996 濕熱試驗設備
GB/T2423.1-2001 高低溫濕熱試驗設備
滿 足 標 準：GB-T10589-2008 低溫箱技術條件
GB-T10586-2006 濕熱箱技術條件
GB/J545860-2005 高低溫濕熱試驗設備技術條件
★控制系統：高精密度可程序*全彩色觸摸屏 LCD控制器，韓國三元公司TEMI880.
★保 固 期：保修一年.【每年定期免費上門保養四次】
★注意事項：(機器周圍環境溫度維持在+5~+30℃之間，貴廠自行負責配至機器設備旁邊)
★空氣質量：無高濃度粉塵及腐蝕性氣體，且不能在易燃易爆氣體中試驗和貯存
★電 源：380 V 3相50 HZ 【電壓范圍:不超過±10%】
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