塵埃粒子計數器是國家規定的計量器具,需按計量檢定規程每年定期校準。因為塵埃粒子計數器在使用一段時間后,其光學系統及檢測系統都會發生變化,如光源老化、發光效率降低或聚焦錯位、透鏡被污染,從而使整機的轉換靈敏度變化。塵埃粒子計數器的校準,就是對儀器各方面進行調整,以獲得較佳工作狀態。
現階段常見的校準塵埃粒子計數器的方法是利用兩類不同的塵埃粒子計數器的比值進行控制，即將小可測粒徑小于0.2微米的儀器稱為A類儀器，其余的均為B類儀器。
在進行校準的時候，需要將A類儀器作為一個標準，從而通過計算得到B類計數器的技術效率，但是這種方式有一個嚴重的弊端，即A類塵埃粒子計數器無法被校準，只能默認其為準確的。
常用的2009年修訂的《塵埃粒子計數器性能實驗方法》，利用計數效率、粒子相應電壓及比較法進行校準，但是對于塵埃粒子計數器的準確性沒有做出任何規定，又沒有對該技術參數的檢測方法提出任何建議，而準確性恰恰是塵埃粒子計數器的根本計量特征。
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