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綜合測(cè)試卡430
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綜合測(cè)試卡430
測(cè)試卡定制銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào):20221223.10,主要用于檢驗(yàn)CR、DR-X 射線數(shù)字成像系統(tǒng)、數(shù)字影像的綜合測(cè)試;規(guī)格:430*350mm,標(biāo)尺分度值不大于2mm.
1.綜合測(cè)試體模主要用于檢驗(yàn)CR、DR-X 射線數(shù)字成像系統(tǒng)、數(shù)字影像的綜合測(cè)試,
符合JJG 1078-2012《醫(yī)用數(shù)字?jǐn)z影(CR.DR)系統(tǒng)輻射源規(guī)程;
2.測(cè)試卡尺寸:430*350mm,標(biāo)尺分度值不大于2mm;
3.具備影像均勻性測(cè)試功能,并有測(cè)試點(diǎn)5 個(gè);
4.提供了6 個(gè)不同厚度基質(zhì)的圓孔,以形成不同的影像灰度;
5.具備空間分辨力測(cè)試功能;
6.具備9 級(jí)楔形板的動(dòng)態(tài)測(cè)試。
x射錢(qián)窮透人依不同組織時(shí),X射線被吸收的程度不同,所以到這個(gè)質(zhì)上的X線量就有差異,形成展白對(duì)比不同的影像,為醫(yī)生的診斷提供依據(jù)。X射線是由能量的轉(zhuǎn)換而產(chǎn)生的。在使用X射線成像時(shí),利用高能電子轟擊金屬靶面,產(chǎn)生x線。也就是說(shuō),X射線是在X射線管中產(chǎn)生的。射線檢測(cè)系統(tǒng)分辨率和射線檢測(cè)圖像分辨率以及射線底片分辨率是考核成像系統(tǒng)質(zhì)量和圖像成像質(zhì)量的重要指標(biāo),也是射線檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)圖像質(zhì)量驗(yàn)收的重要依據(jù),限束器器采用三層葉片加防護(hù)筒進(jìn)行防護(hù)。從結(jié)構(gòu)上根本保證了X射線無(wú)散射的可能,是X射線防護(hù)的理想部件。需要用質(zhì)量檢測(cè)工具--線對(duì)卡,更多詳細(xì)信息和產(chǎn)品參數(shù)請(qǐng)咨詢:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司。
綜合測(cè)試卡430