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產品簡介
單目偏光顯微鏡XSP-59XA 報價 工作原理： 偏光顯微鏡是利用光經過一定條件下的反射，折射，雙折射或散射都會產生偏振光的原理，在光學儀器中加入相互旋轉的兩片偏振濾光鏡，從而獲得舒適的光強度，并提高物體與背景襯度。
詳細介紹
單目偏光顯微鏡XSP-59XA 報價 工作原理
儀器簡介：
偏光顯微鏡是利用光經過一定條件下的反射，折射，雙折射或散射都會產生偏振光的原理，在光學儀器中加入相互旋轉的兩片偏振濾光鏡，從而獲得舒適的光強度，并提高物體與背景襯度。
儀器參數：
單目筒：單目觀察筒,45°傾斜
放大倍數：630倍
物鏡轉換器：四孔轉換器
機械筒長：160mm
平場目鏡：10倍平場/分劃/網絡/十字
消色差物鏡：無應力消色差物鏡4X/0.10,10X/0.25,25X/0.40,40X/0.65,63X/0.80
載物臺：圓形旋轉載物臺,直徑160mm
移動范圍：移動尺行程30×40mm
聚光鏡：N.A.1.30阿貝聚光鏡可調中帶可變光欄及濾色片
透射照明：6V/30VA鹵鎢燈,亮度可調
調焦機構：25mm粗微動調焦機構帶鎖緊裝置
微調格值：0.002mm
偏振裝置：0-90°轉動式檢偏器
補償器：測微尺0.01mm,石膏1λ,云母1/4λ,石英楔子
0-90°轉動式檢偏器：
在顯微鏡光路中適當加入偏振濾光鏡,在有平面偏振光路中,放入被檢的物樣品或有內應力的玻璃,由于內部雙折射的作用分成兩束光程不等的干涉光,兩者相遇時產生相互干涉,當玻璃各部分的應力不一樣時,可以看到各種形狀的干涉圖樣。判別其玻璃受到應力的程度,物質的雙折射和晶粒物質的判別和檢驗。
測微尺0.01mm,石膏1λ,云母1/4λ,石英楔子
根據需要可將石膏試板或1/4云母試板,石英楔子插入補償器插口進行光性測定。