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全面!一文了解Inframet VIS-SWIR成像傳感器

閱讀:903      發布時間:2024-7-19
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工作范圍在可見光,近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業,國防,安全,科研,環保,醫療等領域有著重要的應用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術:彩色或者單色制式的CCD, CMOS. ICCD, EMCCD, EBAPS, sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達到1000nm。

InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段:非制冷類型工作在900nm-1700nm;制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。

Inframet提供一組三套用于測試VIS-SWIR成像探測器的測試系統:VIT,SIT和SOL。

這些測試系統的設計理念和測試能力有所不同。 簡單來說,可以認為VIT是一套在VIS-SWIR范圍內對幾十個帶寬進行連續調節光強的圖像投影系統; SIT是一套可以連續調節光強和波長的標定光源; SOL是一套連續調節光強度和步進調節帶寬的標定光源。

編輯搜圖

VIT測試系統主要用于測試VIS-NIR光譜范圍內十幾個光帶寬的成像質量參數,輻射參數和光度學參數; SIT測試系統主要用于測試在VIS-SWIR范圍內連續調節波長的輻射參數; SOL測試系統主要用于測試在VIS-SWIR范圍內的光度學參數與步進調節波長下的輻射參數。



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