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產(chǎn)品簡介
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測試儀測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。
詳細(xì)介紹
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測試儀
產(chǎn)品概況：
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測試儀配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復(fù)精度和極低的檢測下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。為了使每次測量都能在*激勵條件下進(jìn)行，XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測試儀測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。
測量位置的精確設(shè)定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成，攝像頭可以在操作時精確顯示測量位置。激光點作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設(shè)計使得XDV-SDD是研發(fā)、過程控制和實驗室的理想選擇。同時基于其健壯設(shè)計和用戶友好，它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*的設(shè)備。
產(chǎn)品特征：
帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。zui高工作條件： 50 kV, 50W
X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
準(zhǔn)直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm
基本濾片：6個，可自動切換
帶彈出功能的可編程XY平臺
視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
設(shè)計獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
測量超薄鍍層，例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
痕量分析，例如按照RoHS，玩具和包材指令檢測有害物質(zhì)
高精度黃金和貴金屬分析
光伏行業(yè)
測量NiP層的厚度和成分
應(yīng)用實例：
法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。