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產品簡介
詳細介紹
GAM-70 錫膏測厚儀（中國臺灣*）
功能說明
GAM-70錫膏測厚儀為非接觸式測厚設備，此乃針對Fine Pitch制程能力的成長、印刷技術的提升及精密度要求下之質量管理設備，且能提供各種SPC統計分析值，進而提升制程能力。
GAM-70錫膏測厚儀適用范圍
? 錫道銅箔印刷面。
? 各式厚度量測數值：取得分析統計。
GAM-70錫膏測厚儀系統功能
? 自動/手動量測錫膏厚度。
? 手動量測錫膏長度、寬度、間距。
? 自動計算錫膏面積、截面積、體積。
? 量測值可記錄存盤及打印。
? 可抓取CCD所拍攝圖像，并儲存圖文件。
? 自動計算制程能力指標Cp、Cpk、Cpm。
? 提供厚度分配圖及X-Bar /R-Bar管制圖表。
? 可同時依不同生產線分別量測作記錄。
? 可依欲量測基本厚度，快速調整焦距。
? 可定時呼叫取樣。
GAM-70錫膏測厚儀系統規格
? 可視范圍：4.55mm Î3.50mm ? 放大倍率：x90
? 電源供應：計算機提供
? 外觀尺寸：350(L) Î 400(W) Î 290(H)mm
? 整體重量：30kg ? 檢查方式：Laser Vision
? 臺面尺寸：350(W) Î 265(L)mm ? 量測厚度：0.5mm ~ 0.007mm
? 精確度：(+-)0.0035mm ? 分析系統：GAM70(中文接口)
一、 按主畫面之打印統計。
二、 輸入欲顯示圖表記錄文件名稱。
三、 輸入報表抬頭。
四、 選擇厚度分布統計圖或X-R管制圖。
五、 選擇厚度分布統計圖
[打印圖形]：打印厚度分布統計圖。
[打印數據表]：打印〝厚度列表〞。
六、 選擇X-R管制圖
[打印圖形]：打印X-R管制圖。
[打印數據表]：打印〝單點列表〞。
<厚度分析統計圖>
<X-R管制圖>
