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產品簡介
ILT 5000 SED005WBS320W 紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統可對紫外光固化、光輻射危害及閃光燈測量等的研究分析。
詳細介紹
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統
紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統的研究
光學分析的10多個進制單位的動態范圍
Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）
無線通信：內置
用戶控制或自動：范圍、規零/暗零、采樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入端口
“Set it & Forget It"遠程數據記錄
電源：USB或內置充電電池組
多系統同時連續監測
包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼
NIST可追溯/ISO17025認證校準
采樣率高達100 Hz，可編程
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統描述：
紫外敏感危害探測器設計為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度，用于紫外敏感危害研究
測量
測量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光譜范圍：250–400 nm
配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）
*包括軟件
應用：該檢測器經過特殊配置，可準確測量穿過UV波段的寬波部分，用于總UV靈敏度危險監測。
濾光片和輸入光學元件是可拆卸的，可以與探測器組件分開購買，以允許濾光片和輸入光學元件互換。
注：配置中不含圖片中的平板電腦。