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基于高性能紅外顯微鏡AIM-9000的電子產品異物分析
閱讀：1501 發布時間：2016-11-3
紅外顯微鏡是將紅外光路引入到顯微鏡中，光學顯微鏡觀察微小樣品，調節可變光闌的大小，選擇測試樣品中的某一微區，紅外光聚焦后，進行紅外分析。顯微紅外法在微量樣品的紅外光譜測試中發揮著越來越大的作用。異物分析技術通常應用于生產出來的產品有一些斑點狀附著物、油狀物、粉狀物等異常缺陷或表面污染，此時需要分析異物屬性，進而尋找污染源或環節，進行排查，以改善配方體系，提高產品質量。在電子電氣行業，生產工藝流程復雜，過程中使用的物料眾多，操作流水線上的稍微疏漏，都會導致產品中出現不明異物。這不僅影響產品外觀，影響產品質量，甚至會導致生產停滯，給企業帶來不可估量的經濟損失。由于異物樣品較小，顯紅外微法在微小異物分析中的顯著優勢得以體現。
島津紅外顯微鏡 AIM-9000，可視圖像 330 倍放大，可以實現zui小視野 30*40 μm 的觀測范圍，大范圍廣角相機快速尋找異物點，自動對焦，定位待測點，測量的同時觀測測量位置，確保異物點測量位置零偏移。本文使用 AIM-9000 分析了手機鏡頭組件中的異物。
島津公司新發布紅外顯微鏡 AIM-9000
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