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島津應用:印刷電路板的缺陷分析

閱讀:1299        發布時間:2017-3-9

印刷電路板上的異物和斑點等會造成導電故障,為了防止此類問題的發生,查明異物和斑點的來源極為重要。本文向您介紹使用島津AIM-9000缺陷自動分析系統,對印刷電路板上的異物進行定性分析的示例。

 

microSDTM卡的大視野相機觀察圖像

 

對在microSDTM卡端子上的異物進行掃描和定性分析時,使用AIM-9000的大視野相機,可以順利完成從大視野觀察到確定掃描位置的一系列操作。另外,根據異物形狀分別使用反射法和ATR 法,可以得到良好的光譜。

 

    了解詳情,敬請點擊《印刷電路板的缺陷分析

 

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