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產品簡介
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、制藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針（EPMA）分析對象從幾厘米到幾微米；X射線光電子能譜儀（XPS）分析對象從幾毫米到幾微米；掃描探針顯微鏡（SPM）觀察范圍從100微米到幾納米。
詳細介紹
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環境中實現超高分辨率的觀察，還*實現了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀察。 |  |
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點
●采用FM(頻率調制)方式 以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調制）方式，而FM（頻率調制）方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現更高的分辨率。 SPM：Scanning Probe Microseope |  |
和以往SPM/AFM相比的不同
液體中原子分辨率觀察
 | 圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒在噪聲中的原子通過FM方式（右）則可以清晰地觀察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察
 | TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進行表面電勢的測定?？梢杂^察到數nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區域是正電勢，藍色□區域是負電勢?？梢妼τ贙PFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。 ＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。 |
<引用文獻>
| 1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
