一級光譜純 (Grade 1 Spec-Pure) TEM/SEM鍍碳儀鍍膜儀專用石墨碳棒

這是一款光譜純的石墨結構碳棒，高純度，專為高要求的電鏡分析應用而設計。

主要特性：

• 純度： 總雜質含量 ≤ 2ppm，且單一元素雜質含量 ≤ 1ppm。

• 痕量元素： 可能存在的痕量元素包括硅(Si)、鋁(Al)、鐵(Fe)、鎂(Mg)、鈣(Ca)或硼(B)，其含量均不超過 1ppm。

• 應用范圍： 強烈推薦用于對分析精度有嚴苛要求的應用，例如：透射電鏡(TEM)、場發射掃描電鏡(FESEM)、聚焦離子束(FIB)、波譜儀(WDS)、電子背散射衍射(EBSD)、電子探針(Microprobe)以及高要求的掃描電鏡/能譜(SEM/EDS)分析。

產品規格：

• 長度： 所有規格統一為 12英寸 (約 305 mm)。

• 標稱直徑： 提供三種規格，以適配不同型號的高真空碳鍍膜儀：

• 1/8" (3.175 mm)

• 3/16" (4.76 mm)

• 1/4" (6.35 mm)

物理性能參數：

• 密度： 1.10 g/cm3

• 電阻率： 67 µΩm

• 肖氏硬度： 32

• 孔隙率： 29%