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當前位置:> 供求商機> Bruker三維光學表面輪廓儀/白光干涉儀/表面形貌/粗糙度/三維輪廓等測量系統
布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術的,服務于科研和生產領域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結合了良好的64位多核操作和分析處理軟件,技術白光干涉儀(WLI)硬件和*的操作簡易性,是歷年來來較良好的3D光學表面輪廓儀系統。該系統擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,廣泛使用和直觀的3D表面計量平臺。
應用:
對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等,提供*非接觸式測量方案,樣品從小至微米級別的微機電器件(MEMS),大到整個引擎部件,都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準數據
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