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 　　納米激光粒度儀應用顆粒光散射原理，據光學理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析，其zui大特點是粒度分析動態范圍寬，分辨能力為同行業中zui高;操作簡便快捷，自動化程度高，可廣泛應用于質量控制實驗室、質量控制部門以及其他粒度分析領域。

　　納米激光粒度儀采用全程Mie光散射理論以及提供Fraunhofer理論模型。提供zui高的分辨率、再現性和的度。因此獲得的結果可靠。

　　根據不同的應用和要求，有兩種機型可供選擇：測量范圍從0.4微米至2，000微米的單波長光學系統，以及測量范圍從17納米至2，000微米，采用貝克曼庫爾特的偏振光強度差散射(PIDS)技術的多波長系統。

　　納米激光粒度儀多種型的樣品進樣模塊，滿足不同的分析要求，靈活便利。為了節省操作人員寶貴時間，所有進樣模塊均為“即插即用”型，數秒鐘內完成進樣模塊自動切換、配置與識別。為了降低和消除操作人員之間方法的差異，儀器具備標準操作方法(SOM)和標準操作規程(SOP)功能，簡化了操作過程。更可配置全自動樣品處理工作站，在操作人員離機狀態下自動完成多達30個樣品的前處理、加樣和分析測量，實現全自動、高通量的樣品測量。

　　技術、操作簡便的納米激光粒度儀，可快速獲得可靠的分析結果。適用于干粉、水相和有機相樣品的顆粒粒度測量。