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一、基本原理：

由激光器發出的平行光照射到測量區中的顆粒群時會產生衍射現象，衍射散射光的強度分布被光電探測器捕捉獲取后，將照射光能轉換成相應的電信號，通過相應的算法計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

二、主要技術特點:

測量模塊：

*1. 測量范圍:0.01 -3800 µm

2. 激光：同波長的半導體激光器（綠光，λ=532nm，3mW，壽命高達10000小時）

*3. 斜向設計測量池放置位置，能夠獲取更大的散射角，使小顆粒散射光更易捕捉，并有效避免全反射現象對測量結果造成的影響。

4. 反傅里葉光路設計，120個真實測量通道

5. 光路系統為自動免維護設計，無可移動、轉動部件，光路系統穩定

*6. 背向的散射光反射器能夠加強小顆粒散射光的捕捉，提高極小顆粒的分辨率