JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：壓電系數(shù)，阻抗，顯微鏡，高低溫
JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)是一款多用途的綜合測試系統(tǒng)，即可用于縱向壓電D33測試，豎向D15,橫向D31等性能測試，配置了高低溫冷熱臺，進行變溫測試，配置顯微鏡進行微觀觀測，也可以用于用于用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試，是對壓電器件和設(shè)備進行頻率掃描和阻抗測量分析的*解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數(shù)特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關(guān)系數(shù)，是研究壓電材料和阻抗分析的綜合設(shè)備，是科研的重要輔助設(shè)備。
一、產(chǎn)品應(yīng)用范圍：
1.壓電材料器件科學(xué)研究
2.壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優(yōu)劣
3.壓電材料阻抗分析
4.其他介質(zhì)材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶單元：介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
5. 導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
半導(dǎo)體元件：LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性； 晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
二、主要技術(shù)參數(shù)：
頻率：10HZ-30MHZ
測試電平：AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V，分辨率：1mV
測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
顯微鏡：630萬像素，偏光觀察模式
薄膜平臺：30*30MM樣品臺,探針連接
×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級到10000PC/N.
×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。
可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用
可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用
誤差：×1擋：±2%±1個數(shù)字，當(dāng)d33在100到4000pC/N；
計量標定標準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時間：2-3年（評判壓電測試儀準確性能的重要依據(jù)之一）
提供壓電薄膜標準片：20*20MM
電壓保護：放電保護功能
±5%±1個數(shù)字，當(dāng)d33在10到200pC/N；
×0.1擋：±2%±1個數(shù)字，(當(dāng)d33在10到200pC/N)
±5%±1個數(shù)字，當(dāng)d33在10到20pC/N。
分辨率： ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
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