Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優質供應商
篤摯儀器（上海）有限公司代理的MiniTest 730測厚儀。SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據生產。

Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優質供應商

MiniTest 730測厚儀的SIDSP工作原理
MiniTest 730測厚儀的SIDSP跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術（手機網絡）方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。

MMiniTest 730測厚儀的特點：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件

MiniTest 730測厚儀的探頭介紹：
MINITEST730系列：統計型，外置一體式探頭
MiniTest 730 F 1.5    鐵基涂層，0...1500 μm
MiniTest 730 N 07    非鐵基涂層，0...700 μm
MiniTest 730 FN 1.5    兩用型，0...1500 μm (F)，0...700 μm (N)
MiniTest 730 F2    鐵基涂層，0...2000 μm
MiniTest 730 F5    鐵基涂層，0...5000 μm
MiniTest 730 N 2.5    非鐵基涂層，0...2500 μm
MiniTest 730 FN 5    兩用型，0...5000 μm (F)，0...2500 μm (N)
MiniTest 730 F15    鐵基涂層，0...15 mm

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篤摯儀器（上海）有限公司
：張磊
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