紅外線是自然界中存在的的一種電磁輻射，它的電磁波譜是介于可見光的紅光之外與微波之間的區域，因此我們的肉眼無法直接查看到。

那么對于不可見的紅外輻射能量我們該如何進行測試呢？

早在1840年，威廉.赫歇爾爵士的兒子約翰.赫歇爾在一張薄油膜上生成了世界上*張所謂的“熱像圖”，使得人們對于熱輻射的測試成為可能。另一個重大突破是在1880年，由美國人Samuel Pierpont Langley取得的，他發明了測輻射熱儀。據說該儀器可以測到400米之外。

現代意義上的*紅外熱探測系統是由1914-1918年的*場世界大戰期間開始研制的，在1935—1945年第二次世界大戰中，德國人用紅外變像管作為光電轉換器件，研制出了主動式夜視儀和紅外通信設備，為紅外技術的發展奠定了基礎。

二戰后，由美國德克薩蘭儀器公司經過近一年的探索，開發研制的*代用于軍事領域的被動式紅外成像裝置，稱為紅外尋視系統（FLIR）。期間，由于軍事保密規則*防止了紅外熱像發展狀況的泄露。這種保密技術直到二十世紀五十年代才被公開，后來隨著五十年代銻化銦和鍺摻汞光子探測器的發展，才開始出現高速掃描及實時顯示目標熱圖像的系統。

六十年代早期，瑞典AGA公司研制成功第二代液氮制冷紅外成像裝置，它是在紅外尋視系統的基礎上增加了測溫的功能，稱之為紅外熱像儀。這個階段的熱像儀非常不方便而且笨重。

直到1986年研制的紅外熱像儀已無需液氮或高壓氣，而以熱電方式致冷，可用電池供電；1988年推出的全功能熱像儀，將溫度的測量、修改、分析、圖像采集、存儲合于一體，重量小于7公斤，儀器的功能、精度和可靠性都得到了顯著的提高。直到90年代中期，第三代焦平面微熱量凝視成像熱像儀開始由軍用轉為民用，并且均帶有測溫功能。

現在，我們可以看到越來越多的高靈敏，高分辨率的便攜式熱像儀應用在各種領域。從科學家到設備維修員，各種人士都在使用熱像儀。芯片的研究員用來測試芯片的熱分布狀況，光伏組件的質量工程師用來測試光伏組件的熱斑以及組件的質量監控，設備工程師用來針對設備進行預防性檢測等。