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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
Microvision顯示屏光學測量模塊
描述：SS410-XE（OMM，光學測量模塊）是一個綜合測試型模塊，多可以配置三個功能器件，包括CCD相機、光譜輻射計和響應時間模塊(RTM)，分別對應不同的測試功能，CCD相機主要用于空間測量，包括點分析、線寬、收斂、時間方差、MTF等；光譜輻射計主要用于測量亮度、色度、均勻度、光譜圖、Gamma、對比度等；RTM用于時間測量，包括運動/模糊、上升時間、下降時間、灰度轉換時間、閃爍等，可根據(jù)具體測量需求進行組合。SS410可以單獨安裝在支架上進行單點測量，也可以安裝在位移臺上，用于自動測量顯示屏的不同位置。顯示屏光學測量模塊 Microvision
產(chǎn)品亮點：
l多功能集合體，設計緊湊
l靈活搭配，可定制
l包含集成信號源
l具備MV remote模式，通過WiFi連接和測量移動設備
l自動化測試
l程序自動控溫，精確測量
l包含MV系統(tǒng)軟件，操作界面友好
l提供完整測試方案
l基于FPDM標準設計
l用戶可自定義客制化測試
lNIST可溯源校準
應用范圍：
l平板顯示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
l智能移動顯示 - 手機，平板
l投影顯示 - 選用余弦擴散器測試
l抬頭顯示 - HUD & HDD
lHDTV，NTSC, PAL & SECAM電視
l適用SS90定位器可測試超大尺寸93”屏幕
lCRT顯示 - 單色，彩色，高分辨率醫(yī)學顯示器
升級選項：
l精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現(xiàn)自動測試）
l標準測量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）
lDUT位移臺（DPS-1顯示位移臺，可以調(diào)整DUT x,y,z軸位置，并可調(diào)整角度，精度為0.1°）
l完整測量系統(tǒng)（搭配其他組件，組成SS430系統(tǒng)）
l提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）
技術參數(shù)：
CCD相機
圖像傳感器：1392x1040 像素
數(shù)字視頻：12-位
元件尺寸：6.45 μm/像素
同步性：同步捕獲
濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 - f16
視場：11mm,可調(diào)節(jié)
工作距離范圍：0.5~3.5 m
亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
亮度范圍：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND濾鏡）
測量時間：對于多數(shù)測量<1 sec
Spectrometer光譜輻射計
波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)
亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m2
亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
亮度重復率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m2靈敏度@ 3% RSD
色彩準確度：±0.002 @ 2856K Ill.A
色彩重復率：±0.0005 @ 2856K Ill.A
溫度管理：電腦自動控制
光學器件：12mm 準直
視場角：1.5°
數(shù)字分辨率：16 bit A/D
積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫
校準：NIST可追溯
操作溫度：5~ 30℃
RTM 時間響應模塊
光型：低噪聲，快速響應光電二極管
樣品頻率：1MHz Max. (500kHz可選)
分辨率：16位
探測器響應：20kHz(濾波)
瞬變時間：0.1ms ~ 4s（0.01ms可選RTM-HS）
同步性：軟件和外部選項
重復性：3%
亮度范圍：0.01 ~ 50Kcd/m2
測試案例：
