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產品簡介
NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性，支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。
詳細介紹
NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統
產品描述
NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。
基板上的Via Hole，Pad形狀，pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。
在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性，支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。
產品規格
掃描范圍：0-180um（270um可選）
垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm
臺階高度重復性:﹤0.5%(1σ)
橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）
工作臺面：510X405mm（程控）
尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)
應用領域
Nano View系列為LCD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機電系統），Engineering Surfaces（工程表面）等等領域提供納米級別精度的量測。包括：PostSpacer,RGB,Charater,Back Pannel,Spray PR,Roughness,VIA hole,Cu Thickness,Cu Pad,Line Profile,Fiber,Array,Semiconductor,MENS,Abraslon,BGA.
ISO 25178 · 4287 國際規格標準化數據
按照ISO國際標準機構規定的規格，以圖表、表格、2D•3D圖像的形式大面積顯示粗糙度、高度及幅度等各類數據。
圖形的粗糙度評價Roughness evaluation of images
Nano System利用從ISO、ASME、EUR等多家國際標準機構獲得的30多個粗糙度參數來評估Sample的粗糙度。