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涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)及參數(shù)
閱讀：578 發(fā)布時(shí)間：2018-3-12
1、零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀性能測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
2、無需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
3、溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
4、*的直流采樣技術(shù)：使測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
5、一體化設(shè)計(jì)
6、自動(dòng)開關(guān)機(jī)
| QuaNix/Qnix技術(shù)參數(shù) | ||
| 型 號(hào) | 4200 | 4500 |
| 基 體 | Fe | Fe/NFe |
| 探頭形式 | 一體 | |
| 顯 示 | LCD數(shù)字顯示 | |
| 測(cè)量范圍 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－3000μm |
| 測(cè)量精度 | 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－3000μm≤±3% | |
| 顯示精度 | 0－99μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm | |
| 工作溫度 | －10 － ＋60℃ | |
| 溫度補(bǔ)償 | 0－50℃ | |
| zui小基體 | 10mm×10mm | |
| zui小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | |
| zui薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
| 電 源 | 5號(hào)電池2節(jié) | |
| 重 量 | 110g | |
| 尺 寸 | 110×60×27mm | |