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雙折射測測量系統 PA-200,PA-200-L
產品簡介
PA-200系列是Photonic lattice公司以其世界的光子晶體制造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為*的光學測量產品。
該產品對玻璃等低相位差的雙折射分布測量，在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。
特點
u 操作簡單，測量速度可以快到3秒，
u 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
u 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
u 具有多種分析功能和測量結果的比較。
u 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
主要應用
· 光學零件（鏡片、）
· 智能手機玻璃基板
· 有機材料（透明晶圓）
參數指標
型號 | PA-200 | PA-200-L |
測量范圍 | 0~ 130nm | |
重復性 | <1.0nm | |
像素數 | 1120×868（≒100萬）pixels | |
測量波長 | 520nm, | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀測到的zui大面積 | 27×36 mm ～ 99×132mm | 36×48 mm ～ 240×320mm |
重量 | 12kg | 22kg |
數據接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | WPA-View | |
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