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應力雙折射測量系統產品簡介
WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發的產品，*的測量技術，高速的測量能力使其成為*的光學測量產品。
該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。
應力雙折射測量系統WPA-200-L特點
u 操作簡單，測量速度可以快到3秒，
u 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
u 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
u 具有多種分析功能和測量結果的比較。
u 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
應力雙折射測量系統WPA-200-L主要應用
· 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）
· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
· 有機材料（球晶、FishEve）
參數指標
型號 | WPA-200 | WPA-200-L |
測量范圍 | 0~35OOnm | |
重復性 | <1.0nm | |
像素數 | 384×288（≒11萬）pixels | |
測量波長 | 523nm,543nm,575nm | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀測到的大面積 | 24×32 mm ～ 100×133mm | 33×44 mm ～ 240×320mm |
重量 | 13kg | 23kg |
數據接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | WPA-View | |
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