目錄:鄭州成越科學儀器有限公司>>實驗室產品配件>> CY-FTM-V監控儀膜厚監控儀
一、應用范圍：
本膜厚監控儀適用于真空電阻熱蒸發、磁控濺射等鍍膜厚度測量，到達設置厚度自動關閉擋板；通過液晶顯示使您能連續獲取完整的沉積數據，包括速率、厚度和晶體振蕩頻率。
二、技術參數：
CY-FTM-V監控儀 晶振頻率 6MHz 顯示方式 液晶屏顯示 操作方式 面板按鍵 厚度顯示范圍 0-99μ9999? 厚度顯示分辨率 1? 速率顯示范圍 0-9999.9? 速率顯示分辨率 0.1?/s 鍍膜層數 16 探頭輸入 4路（任選一路工作） 工具因子 0.01-99.99 材料存儲 52種 鍍膜巡回次數 0-99 通 訊 RS232 源/擋板 2組繼電器觸點 機箱尺寸 480×250×89mm(2U 19"機箱)
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