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泰克KeithleySMU2650系列高功率源測量單元

2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設計。 它們提供大的功率、精度、速度、靈活性和易用性，可提高研發、生產測試和可靠性環境中的效率。 有兩種儀器可用，提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。

泰克KeithleySMU2650系列高功率源測量單元特點

• 高度靈活的四象限電壓和電流源/負載，與高精度電壓表和電流表相耦合源或阱（2651A）脈沖功率高達2000W（±40V、±50A），或直流電源高達

• 200W（+10V@+20A、±20V@±10A、±40V@+5A）；輕松連接兩個器件（串聯或并聯）創建高達+100A或±80V的解決方案

• 源或阱（2657A）直流或脈沖功率高達180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)

• 內置基于網絡瀏覽器的軟件

• 有數字化或積分測量模式可供選擇

• TSP（測試腳本處理）技術

• TSP-Link 通道擴展總線

• 兼容于8010型高功率設備測試夾具和8020型高功率接口面板

• 免費的測試腳本構建器軟件工具

• 選配的ACS基礎半導體元器件檢定軟件

泰克KeithleySMU2650系列高功率源測量單元優勢

• 提供相比同類產品頗具優勢的性能，具有6%位分辨率。

• 支持功率半導體、HBLED、光學設備、太陽能電池、GaN、SiC和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體接點溫度檢定；高速、高精度數字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設備測試。

• 提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括GaN、SiC及其他復合材料和器件、高達3kV的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態檢定。

• 支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從任何地方進行遠程控制。

• 支持準確檢定瞬態和穩態行為，包括快速變化的熱效應。

• 可以與2657A型與2600B系列型號輕松地進行系統集成。

• 讓多臺2651A和2657A與所選2600B系列SMU儀器組合成多達32條通道的集成系統。

• 為封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。

• 幫助您創建、修改、調試和存儲TSP測試腳本。

• 開發、質量檢驗或故障分析期間執行封裝部件檢定時，較大限度地提高工作效率。