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混凝土成分分析M4 TORNADO
混凝土成分分析M4 TORNADO德國布魯克微區X射線熒光光譜Micro-XRF分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性...

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/24 9:09:34 對比

混凝土分析儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀混凝土成分分析儀熒光成像光譜儀
電子順磁共振波譜儀
電子順磁共振波譜儀電子順磁共振波譜儀（EPR）ESR5000是一種緊湊型高性能儀器，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領域的苛刻應用。ESR5000EPR（電子...

型號： ESR5000 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 16:30:43 對比

電子順磁波譜儀共振波譜儀EPR波譜儀電子順磁共振波譜儀波譜儀布魯克
掃描儀Itrax XRF FleXRay
掃描儀Itrax XRF FleXRayItrax XRF FleXRay是一款靈活的非接觸式，無損巖芯掃描儀，可以用于掃描鉆孔巖芯、全巖和分散巖芯、板狀、線性...

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 16:16:36 對比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
薄膜應力及基底翹曲測試設備
薄膜應力及基底翹曲測試設備產品品牌：Frontier Semiconductor產品型號：薄膜應力和硅片翹曲檢測儀產品描述：光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。

型號： Frontier ... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 16:10:43 對比

薄膜應力測試儀晶元彎曲測試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測試儀半導體薄膜分析
掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡同類AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）

型號： Innova 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 16:00:00 對比

原子力顯微鏡原子力顯微鏡探針布魯克掃描顯微鏡顯微鏡探針針尖納米壓痕探針
多基體火花直讀光譜儀Q4 POLO
多基體火花直讀光譜儀Q4 POLO

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 12:03:09 對比

直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
紅外干涉測量設備
紅外干涉測量設備適用于可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...

型號： FSM 413 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 11:57:22 對比

紅外干涉光測厚儀反射膜測厚儀白光測厚儀光學薄膜測厚儀顯微反射測厚儀
便攜式涂層測厚儀
便攜式涂層測厚儀PaintCheck能測量涂層的厚度，也能提供有關涂層結構的有價值信息，例如，頂部涂層或子填料。如果所測量的厚度超過標準涂層，該儀器會識別出維修...

型號： PAINTCHEC... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 11:47:11 對比

X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
移動式微區X射線熒光光譜儀
移動式微區X射線熒光光譜儀CRONO移動式微區X射線熒光光譜儀是一款可移動且可重新配置的快速檢測的微型XRF掃描儀?；贓DXRF技術，可對大型樣品進行原位，非...

型號： CRONO 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 18:41:28 對比

司法鑒定光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀重金屬分析儀熒光成像光譜儀
便攜式微區X射線熒光光譜儀
便攜式微區X射線熒光光譜儀微區X射線熒光光譜儀作為一款元素分析設備，具有無損、快速、分析元素范圍廣、精度高、制樣簡單、樣品狀態不受限制等優異性，在物質組成和結構...

型號： ARTAX 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 18:34:55 對比

司法鑒定光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀重金屬分析儀熒光成像光譜儀
三維表面測量系統
三維表面測量系統布魯克NPFLEX三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題...

型號： NP Flex 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 18:19:37 對比

表面輪廓儀臺式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
全自動紫外線芯片應力測量儀
全自動紫外線芯片應力測量儀全自動紫外線芯片應力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器，主要用與測量芯片應力。

型號： FSM360 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 18:11:14 對比

應力測試儀芯片應力分析儀應力測試機應力機器應力分析儀
直讀光譜儀
直讀光譜儀用于金屬材料分析的全譜直讀光譜儀它具備良好分析性能、使用方便，是一種基于 CCD 檢測器的金屬材料分析全譜直讀光譜儀。

型號： Q4 TASMAN 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 17:47:56 對比

直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
光學輪廓儀系統
光學輪廓儀系統?光學輪廓儀系統適用于科研和生產的高質量表面測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三十多年表面測量經驗和技術融合到單一平臺上，實現調整校準...

型號： ContourGT... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 17:41:37 對比

表面輪廓儀臺式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀光學輪廓分析儀
輕便型直讀光譜儀Q2 ION
輕便型直讀光譜儀Q2 IONBruker設計的直讀光譜儀Q2 ION是現今市場上輕便的直讀光譜儀。Q2可同時配備多種基體例如鐵、鋁和銅, 能夠很好地中小鑄造企業...

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 17:24:24 對比

直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
藝術與考古分析儀
藝術與考古分析儀TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發布的科研型手持式XRF設備，也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker...

型號： Tracer 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 17:10:02 對比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
反射膜厚儀
反射膜厚儀采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速...

型號： MProbe NI... 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 17:02:09 對比

干涉光測厚儀反射膜測厚儀白光測厚儀光學薄膜測厚儀顯微反射測厚儀
涂層測厚儀SURFIX®系列
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 16:58:10 對比

X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
哈氏槽
哈氏槽黃銅片，陽塊，鎳陽，波紋吸盤，哈氏槽，磷銅陽，純錫陽，整流器，哈氏片

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 15:26:50 對比

哈氏槽整流器磷銅陽純錫陽波紋吸盤
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAM
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAMM6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 15:09:04 對比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀

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