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近期，凌光紅外LUXET Thermo 50鎖相紅外顯微成像系統升級。

基于非制冷紅外相機的鎖相紅外顯微成像系統

鎖相紅外顯微系統是一款先進的非破壞性電性故障定位設備，它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中(長波)紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點，是實驗室研發、檢測、IC產品設計、電路失效分析領域的理想失效分析工具。

LUXET Thermo 50是一款基于非制冷紅外相機的鎖相紅外顯微成像系統，配置了電動垂直運動系統、高幀頻長波紅外相機、廣角鏡頭與顯微鏡頭、高壓源表，可以適用于封裝器件、電路板等多種不同種類器件的失效點分析。

西努光學自2003年成立以來，始終致力于以“以光學及圖像算法為核心，為用戶提供檢測解決方案"推動智能檢測裝備的轉型升級，公司將顯微光學成像技術以及圖像算法應用于檢測技術，幫助工業企業、科研高校等客戶實現智能化檢測發展，產品功能涵蓋缺陷檢測、智能制造、實驗室理化解決方案等多個領域。