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表面形貌測量儀應(yīng)用在手機外殼的檢測
表面形貌測量儀應(yīng)用在手機外殼的檢測
表面形貌測量儀是一種非接觸式光學3D輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量，測量較薄的涂層被證實為難度更高。
采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。無論測量的是何種元件，無論對分析速度的要求有多高，非接觸式表面形貌測量儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。
極大地擴展了分析能力，同時又不至于讓分析程序變得更復雜。可測量各種各樣的元件和表面，不需要進行復雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。通過標準化的方法、程序和報告，可輕松地整合到質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
表面形貌測量儀對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用，可測量多種類型的表面。可測量的材料類型包括：玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
三維形貌量測系統(tǒng)采用光學全場非接觸式測量技術(shù)，通過測頭直接測量獲取工件的三維形貌信息，對三維輪廓信息進行直接測量得到工件的尺寸信息。
表面形貌測量儀對手機外殼檢測的原理：
采用光學全場非接觸式測量技術(shù)，直接獲取手機外殼的三維形貌。通過三維形貌的點云數(shù)據(jù)進行逆向工程生成CAD模型，與手機外殼的CAD原型比對，獲得加工誤差，為產(chǎn)品提供質(zhì)量考核依據(jù)。
表面形貌測量儀在手機外殼中的應(yīng)用：
1.手機外殼全表面快速測量；
2.手機3D玻璃及陶瓷外殼等構(gòu)件輪廓及厚度檢測。
這一類檢測是采用光譜共焦技術(shù)，非接觸式測量手機3D玻璃及陶瓷外殼等構(gòu)件的整板翹曲度，任意截面翹曲度，整板厚度以及任意截面厚度等。