1.采用組合觀察方法獲得出色圖像

2.輕松生成全景圖像

3.生成全聚焦圖像

4.采集明亮區域和暗光區域

1.專為材料科學而設計的軟件

2.符合行業標準要求的金相分析

1.輕松恢復顯微鏡設置

2.用戶指導讓高級分析變得更加簡單

3.高效生成報告

1.可靠的光學性能：波前像差控制

2.清晰的圖像：圖像陰影校正

3.一致的色溫：高強度白光LED照明

4.精確測量：自動校準

1. 打造專屬于您的系統：利用各種可選組件獲得全面定制的系統

優良的分析工具

GX53顯微鏡的各種觀察功能可提供清晰、銳利的圖像，讓您能夠對樣品進行可靠的缺陷檢測。PRECiV圖像分析軟件的新型照明技術和圖像采集方案可為樣品評估和結果記錄提供更多選擇。

高數值孔徑和長工作距離相結合

物鏡對顯微鏡的性能至關重要。新的MXPLFLN物鏡通過同時實現數值孔徑和工作距離較大化，為MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍時，分辨率越高，通常意味著工作距離越短，這會迫使樣品或物鏡在物鏡交換過程中縮回。在許多情況下，MXPLFLN系列的3 mm工作距離消除了這一問題，使檢查速度更快，物鏡碰到樣品的可能性更小。

從不可見到可見：MIX技術

MIX技術將暗場與另一種觀察方法（例如明場或偏振）相結合，使您能夠查看傳統顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器具有定向暗場功能，可在指定時間照射一個或多個象限，減少樣品的光暈，以便更好地觀察表面紋理。

輕松生成全景圖像：即時MIA

使用多圖像拼接（MIA）功能時，只需轉動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接 — 電動載物臺為可選件。PRECiV軟件采用模式識別生成全景圖像，非常適合檢查滲碳和金屬流動情況。

生成全聚焦圖像：EFI

PRECiV軟件的景深擴展（EFI）功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起，生成樣品的單幅全聚焦圖像。即使分析表面不平整的橫截面樣品時，EFI也能創建全聚焦圖像。

EFI配合手動或電動Z軸聚焦裝置，可生成高度圖像，對結構進行可視化觀察。

利用HDR同時采集明亮區域和暗光區域

采用優良圖像處理技術的高動態范圍（HDR）可調整圖像內的亮度差異，從而減少眩光。該功能還有助于增強低對比度圖像的對比度。HDR可用于觀察電子器件中的微小結構并識別金屬晶界。

PRECiV軟件 — 針對材料科學優化

GX53顯微鏡和PRECiV軟件可為滿足各種行業標準要求的金相分析方法提供支持。通過分步操作指導，用戶可輕松快捷地完成樣品分析。

顆粒分析 — 計數和測量解決方案

計數和測量解決方案采用高級閾值法，能夠可靠地分離目標（如顆粒和劃痕）與背景。可使用超過50種不同的參數對樣品進行測量或評級，包括形狀、大小、位置和像素特性等。

微觀結構中的晶粒尺寸

測量晶粒尺寸并分析鋁、鋼晶體結構（例如鐵素體和奧氏體）以及其他金屬的微觀結構。
支持的標準：ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T

評估石墨球化率

評估鑄鐵樣品（球墨和蠕墨）的石墨球化率和含量。對石墨節點的形態、分布和大小歸類。
支持的標準：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

高純度鋼中非金屬夾雜物含量的評定

對在惡劣視場采集圖像中的非金屬夾雜物或手動發現的惡劣夾雜物進行分類。
支持的標準：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

比較樣品圖像和參考圖像

可輕松比較實時或靜態圖像與自動縮放的參考圖像。該解決方案包含符合各種標準的參考圖像（也可單獨購買更多的參考圖像）。支持多種模式，包括實時疊加顯示和并排比較。
支持的標準：ISO、EN、ASTM、DIN、SEP

詳細配置及規格請聯系技術確認。