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使用“二合一法”解決方案進行清潔度分析
在汽車和運輸、微電子、制造和醫療器械等行業中，產品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。
徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學顯微術 (目視分析) 和激光誘導擊穿光譜 (LIBS) (化學分析) 相結合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 等其他方法進行比較，在高效清潔度分析中占據著優勢。
查找和消除污染源更輕松
對于技術清潔度，終目標是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時間和精力識別污染源，因為清潔度分析流程得到了簡化。
與使用掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 進行分析的不同之處在于:
> 無需樣品制備；
> 無需將樣品從一個設備傳輸到另一個設備；
> 無需在濾片上重新定位感興趣區域，也無需進行系統調節；
> 無需損失等待真空的時間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進行)
“二合一法”解決方案:顆粒成像和構成分析
以下圖 2 所示為使用徠卡 DM6 M LIBS 解決方案對濾片上的顆粒進行可視和化學分析的示例。
圖 2：使用 DM6 M LIBS 二合一解決方案執行清潔度分析:
A) 檢測、統計和測量濾片上的顆粒；
B) 如果是金屬顆粒，選擇適當的對比度方法可以看到顆粒的反射光；
C) 激光追蹤 ( 紅色十字準線) 濾片上檢測到的顆粒，以運用 LIBS 進行化學分析；
D) 來自 LIBS 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (Al) 組成。
雙重高效的總體清潔度工作流程
對于整個清潔度工作流程，往往要使用多個供應商提供的多種儀器來執行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析，在整個流程中使用來自“單一源”的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 Pall 公司共同努力為汽車和運輸行業提供了這樣一種*而全面的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 Pall 清洗柜和徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。
整套解決方案的優勢在于更容易達到清潔度分析的終目標:：
> 測定顆粒導致損壞的潛在可能性；
> 找到并消除對產品性能和使用壽命構成嚴重威脅的污染源
圖 3：符合 VDA19 且有效的汽車行業整體清潔度工作流程：
從濾片顆粒提取和保留 （Pall 清洗柜） 到可視和化學分析（徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案）。
目標旨在更快地找到危險顆粒污染源并消除它們。
關于徠卡顯微系統Leica Microsystems
徠卡顯微系統是顯微科技與分析科學儀器之，總部位于德國維茲拉(Wetzlar, Germany)。主要提供顯微結構與納米結構分析領域的研究級顯微鏡等專業科學儀器。自公司十九世紀成立以來，徠卡以其對光學成像的ji致追求和不斷進取的創新精神始終得到業界廣泛認可。徠卡在復合顯微鏡、體視顯微鏡、數碼顯微系統、激光共聚焦掃描顯微系統、電子顯微鏡樣品制備和醫療手術顯微技術等多個顯微光學領域處于lin先地位。
徠卡顯微系統在有七大產品研發與生產基地，在二十多個國家擁有服務支持中心。徠卡在一百多個國家設有區域分公司或銷售分支機構，并建有遍及的完善經銷商服務網絡體系。