市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法，兩者在本質上是相通的，測量精度相近，頻域技術是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術在各種顯微壽命成像平臺中都有應用，時間相關單光子計數方法（TCSPC )是zei為常見的時域技術，而新興的數字頻域技術（FastFLIM™ )則取代了傳統(tǒng)的模擬頻域技術，憑借其獨恃的優(yōu)勢成為應用zei廣的頻域技術。

   美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術解決方案的公司，其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊，可以讓您現有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能，可適配各種顯微鏡。

FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器，用于FLIM/FFS。

激光共聚焦自帶的混合光子探測器（Hyd）可直接跟FastFLIM連接，用戶FLIM/FFS

FastFLIM模塊通過USB與電腦連接，可任意選配控制工作站。

FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊的優(yōu)勢：

Ø高效快速的數據采集模式（100% duty cycle）,幾乎無死亡時間;

Ø光子計數動態(tài)范圍大，線性度高，數據采集率可達每秒計數6x10⁷；

Ø提供四個數據輸入通道，

Ø同時對四個檢測器進行并行數據采集； 

Ø靈活度高，應用范圍廣

Ø100ps到100ms的無間斷壽命測量；

Ø可接入多種模式觸發(fā)信號與脈沖激光或其它測量設備同步；

Ø可輸出多種模式觸發(fā)信號來調控脈沖激光重復率或調制激光或同步其他測量設備