化工儀器網(wǎng)
技術(shù)文章
美國(guó)GE/MSEB4|MSEB2S雙晶保護(hù)膜探頭應(yīng)用
閱讀：809 發(fā)布時(shí)間：2021-3-28美國(guó)GE/MSEB4|MSEB2S雙晶保護(hù)膜探頭應(yīng)用|京海興樂(lè)科技（北京）有限公司現(xiàn)貨提供
應(yīng)用
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用
用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
系列 | 型號(hào) | 頻率 BS | 1 | 側(cè)裝 | 24mm | ES45 |
1 | ||||||
2 | ||||||
2.25 | ||||||
4 | ||||||
5 | ||||||
1 | 頂裝 | |||||
2 | ||||||
4 | ||||||
5 |
(MHZ)
接口方向
帶寬
晶片直徑
接口類型
保護(hù)膜
B1S-EN
25
Lemo 01
B1S
B2S
B2.25SE
B4S
B5S
B1S-O
B2S-O
B4S-O
B5S-O