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HS PA30-X相控陣檢測儀應用
閱讀：812 發布時間：2023-5-22HS PA30-X相控陣檢測儀應用
HS PA30-X相控陣檢測儀
產品概述
功能特點
→多能一體，兼容PA,TFM，TOFD檢測及A超檢測功能。
→檢測界面數據可視化，檢測速度更快。
→儀器檢測簡單，相控陣晶片自動校準。
→A、C、L、3D多視圖角度顯示檢測結果，判斷缺陷更簡單。
→超聲波設備便攜、節能，依靠便攜式的小容量電源就能長時待機工作，利于現場高空作業。
技術參數
參數分類 | 參數選項 | 相控陣通道 | 常規通道 |
接收/發射 | 64/128（PR） | 4通道TOFD(2對一發一收) | |
激勵脈沖電壓 | 50V-100V | 200V-350V | |
PA/UT配置 | 脈沖形式 | 負方波 | 負方波 |
發射脈沖寬度 | 30ns-500ns/2.5ns | 30ns-500ns可調 | |
脈沖發生器 | 激勵脈沖電壓 | 50V-100V | 200V-350V |
發射脈沖重復頻率 | 10KHz可調 | 1KHz可調 | |
發射延遲 | 0-20μs/2.5ns | 0-655μs/10ns | |
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接收器 | 接收延遲 | 0~50μs/10ns | / |
增益范圍 | 80dB/0.1dB（模擬）+40 dB/6dB（數字） | 110dB/0.1dB | |
系統帶寬 | 0.5MHz-20MHz | 0.5MHz-20MHz | |
數據采集 | 采樣率 | 100MHz/10bit | 200MHz/bit |
最大A掃深度 | 實時點數 | 2048 | |
聚焦模式 | 常規/動態/全范圍 | / | |
聚焦類型 | 深度/聲程/投影聚焦 | / | |
檢波 | 射頻、正檢、負檢、全檢 | 射頻、正檢、負檢、全檢 | |
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掃描與顯示 | 掃描類型 | 扇掃/線掃/復合掃 | / |
掃描類型 | 扇掃/線掃/復合掃 | / | |
顯示模式 | A/B/C/L/S/3D | A/B/C | |
可編程TCG | 點的數量 | 32個 | / |
最大增益量 | 40dB,步距0.1dB | / | |
最大增益斜率 | 40dB/μs | / | |
數據存儲 | 256GB | ||
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顯示器 | 尺寸 | 12.1'' | |
分辨率 | 1280×800 | ||
觸摸屏類型 | 電容式觸摸屏 | ||
I/O接口 | USB | USB3.0 | |
以太網 | 1000Mb/s（USB轉換器） | ||
視頻輸出 | HDMI | ||
編碼器 | ODU-7PIN雙路編碼器 | ||
語言 | 中文/英文 | ||
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電源 | 直流供電電壓 | DC24V | |
電池 | 100wh | ||
連續工作時間 | ≥4小時 | ||
整機尺寸 | 390×245×110（mm） | ||
整機重量 | / | ||
工作溫度 | (-10-45)℃（參考值） | ||
存放溫度 | (-10-45)℃（參考值） | ||
應用
適用于碳鋼、不銹鋼、合金鋼、銅、鋁等各種金屬材質及非金屬材質的板材、焊縫、鑄件、鍛件、管材等不同加工工藝及結構形態的內部多種缺陷(裂紋、夾雜、疏松、氣孔等)的快速和準確檢測、定位、評估和診斷。