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日置阻抗分析儀IM3570
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
測(cè)量|Z|、L、C、R 測(cè)量頻率4Hz~5MHz 測(cè)量時(shí)間：0.5ms 同時(shí)進(jìn)行掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
日置阻抗分析儀IM3570
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
測(cè)量|Z|、L、C、R 測(cè)量頻率4Hz~5MHz 測(cè)量時(shí)間：0.5ms 同時(shí)進(jìn)行掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量
概要
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
搭配4ch掃描模塊機(jī)架，更能實(shí)現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測(cè)量
基本參數(shù)
測(cè)量模式
LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量
測(cè)量參數(shù)
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測(cè)量量程
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
顯示范圍
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對(duì)值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測(cè)量頻率
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)）
測(cè)量信號(hào)電平
V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
輸出阻抗
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF
測(cè)量時(shí)間
0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值）
測(cè)量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能
DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能
接口
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤(pán)，LAN
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
打印
拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446）
接口
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
體積和重量：330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件：電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1，通訊手冊(cè)×1
日置阻抗分析儀IM3570