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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹：
本儀器配置特殊數(shù)字存儲(chǔ)示波器，軟件依照壽命測(cè)量基本原理編寫(xiě)，采用了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（MF28 及MF1535）中推薦的幾種讀數(shù)方法。
數(shù)字示波器具有存儲(chǔ)功能，應(yīng)用平均采樣方式，平均次數(shù)可選4、16、32、64、128、256 次，隨平均次數(shù)的增加隨機(jī)噪聲被減小，波形更穩(wěn)定、清晰。
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料國(guó)際組織SEMI 標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707 及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010設(shè)計(jì)制造。本設(shè)備采用微波反射無(wú)接觸光電導(dǎo)衰退測(cè)量方法，適用于厚度為1mm 以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測(cè)量，提供無(wú)接觸、無(wú)損傷、數(shù)字顯示的快速測(cè)量。壽命測(cè)量可靈敏地反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導(dǎo)體質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
壽命測(cè)量范圍：0.25μs～10ms；
電阻率下限：≥0.5Ω·cm，尚未發(fā)現(xiàn)電阻率測(cè)量上限。
型號(hào)：N 型或P 型單晶或鑄造多晶。
紅外光源波長(zhǎng)：0.904～0.905μm；
外形尺寸：365×415×160mm
產(chǎn)品重量：13Kg
工作電源：～220V 50Hz
功耗范圍：≤40W
基本配置：
100B壽命儀主機(jī)1臺(tái)
數(shù)字示波器1臺(tái)
信號(hào)線1條
校核片1片
156*156開(kāi)方硅錠測(cè)試臺(tái)1套