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產品簡介
余弦校正輻射探頭是一種用于光譜輻射測量的光學元件，用于收集180°立體角內的輻射光信號，從而消除了其它取樣裝置中光線收集裝置幾何結構中的光學接口問題。
詳細介紹
余弦校正輻射探頭是一種用于光譜輻射測量的光學元件，用于收集180°立體角內的輻射光信號，從而消除了其它取樣裝置中光線收集裝置幾何結構中的光學接口問題。
LS-CC余弦校正輻射探頭采用反射率＞98%spectralon漫反射射材料，實現200-2500nm輻射光譜測量。我們提供兩種余弦校正輻射探頭一種是通過SMA接頭光纖連接光譜儀，另外一種是直接耦合到光譜儀的SMA接口上。萊森光學的余弦校準輻射探頭與光譜儀配合使用時，可以用來測量UV-A和UV-B太陽輻射、環境光、燈光和其它發光光源。
主要技術參數
型號 | LS-CC-UV/NIR/ LS-CC-UV/nir |
漫散材料 | Spectralon（200-2500 nm），反射率＞98% |
直徑 | 3.9mm-10mm |
接收角度 | 接收來自180°立體角的光 |
接頭 | SMA 905 |