天瑞儀器公司成立于1992年是專業的X熒光光譜分析儀研發、生產、銷售一體型業企

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

EDX 4500H X熒光光譜儀SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀
   測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）同時分析元素：一次性可測幾十種元素測量時間：30秒-200秒探測器能量分辨率為：145±5e管壓：5KV-50KV管流：50μA-1000μA測量對象狀態：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環境溫度：15℃-30℃環境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg高效超薄窗X光管SDD硅漂移探測器數字多道技術光路增強系統高信噪比電子線路單元內置高清晰攝像頭自動切換型準直器和濾光片自動穩譜裝置三重安全保護模式可靠的整體鋼架結構90mm×70mm的狀態顯示液晶屏真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）