DantecFlawExplorer無損檢測系統(tǒng)                   DantecFlawExplorer無損檢測系統(tǒng)

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三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，非接觸和三維動態(tài)測量的形狀，位移和應(yīng)變的元件和結(jié)構(gòu)幾乎任何材料。基于數(shù)字.01%左右。三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，。基于數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)，設(shè)計了Q 450系統(tǒng)，用于全場振動分析和高速瞬態(tài)事件。例如：彈道試驗，斷裂場光學測量和高時間分辨率.動態(tài)范圍從靜態(tài)到超過100，000赫茲，具有測量從微米到米范圍的位移的能力。分辨率一般在1微米左右，應(yīng)變?yōu)?.01%左右。三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，非接觸和三維動態(tài)測量的形狀，位移和應(yīng)變的元件和結(jié)構(gòu)幾乎任何材料。基于數(shù)字.01%左右。三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，。基于數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)，設(shè)計了Q 450系統(tǒng)，用于全場振動分析和高速瞬態(tài)事件。例如：彈道試驗，斷裂場光學測量和高時間分辨率.動態(tài)范圍從靜態(tài)到超過100，000赫茲，具有測量從微米到米范圍的位移的能力。分辨率一般在1微米左右，應(yīng)變?yōu)?.01%左右。三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，非接觸和三維動態(tài)測量的形狀，位移和應(yīng)變的元件和結(jié)構(gòu)幾乎任何材料。基于數(shù)字.01%左右。三維高速圖像相關(guān)系統(tǒng)Q-450允許全場，。基于數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)，設(shè)計了Q 450系統(tǒng)，用于全場振動分析和高速瞬態(tài)事件。例如：彈道試驗，斷裂場光學測量和高時間分辨率.動態(tài)范圍從靜態(tài)到超過100，000赫茲，具有測量從微米到米范圍的位移的能力。分辨率一般在1微米左右，應(yīng)變?yōu)?.01%左右。