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| 產地類別 | 國產 |
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各種材料/構件表面、斷口微觀形貌觀察；
能譜成分半定量分析（原子序數Z≥11）；
有機物成分紅外光譜定性檢測；
產品簡介
詳細介紹
失效分析服務
失效分析實驗室擁有場發射掃描電子顯微鏡、X射線能譜儀、紅外光譜儀、便攜式金相顯微鏡以及樣品處理設備（噴金設備、超聲波清洗儀等）等，依托中心的力學性能、化學分析、金相分析、無損檢測等檢測能力，可面向材料及結構（包括金屬材料、非金屬材料、復合材料、緊固件等）開展系統的失效分析工作，包括缺陷分析、裂紋分析、斷裂失效分析、環境介質作用下的失效分析、磨損失效分析等，同時可針對航天器表面的有機/無機污染物、多余物成分進行快速分析檢測，通過失效分析工作為查找失效原因，發現產品薄弱環節，為型號產品質量歸零、產品工藝過程改進提供技術依據。
實驗室擁有一批專業的失效分析人員，現有獲得資質認定的高級失效分析師2人，中級失效分析師3人，多年來面向院內各型號開展了百余起失效分析工作，積累了豐富的失效分析經驗。
可提供的失效分析服務：
- 各種材料/構件表面、斷口微觀形貌觀察；
- 能譜成分半定量分析（原子序數Z≥11）；
- 有機物成分紅外光譜定性檢測；
- 高分子材料的結構分析；
- 材料及結構斷口分析；
- 材料及結構缺陷分析；
- 材料及結構裂紋分析；
- 材料及結構磨損失效分析
- 材料及結構環境介質作用下的失效分析；
- 航天器表面污染物/多余物成分分析。
儀器設備
1、場發射掃描電子顯微鏡
功能：微觀形貌觀察
參數：
a. 分辨率：0.8 nm 在30 kV (STEM)
1.0 nm 在 15 kV，WD = 2 mm
1.7 nm 在 1 kV，WD = 2 mm
b .加速電壓0.1 – 30 kV，以10 V為一級連續可變
c. 探針電流穩定度優于0.2%/h
d. 放大倍數范圍：12 – 1,000,000 x，以粗調或細調方式連續可變。
e. 樣品臺行程：X = 130 mm
Y = 130 mm
Z = 50 mm
T = -3?到70?
R = 360?連續
f. 探頭包括CCD、SE、ASB、In-lens四種探頭
g. 附件包括：K550X濺射儀、超聲波清洗儀
2、X射線能譜儀：
功能：元素成分半定量檢測（僅針對原子序數Z≥11的元素）
參數：
a. 制冷方式：液氮制冷；
b .能譜儀分辨率：優于129 eV；
c. 1000～40000CPS平均元素定量誤差小于0.5％；
d.能譜儀峰漂移：Mn Kα峰譜峰漂移小于1eV；
3、便攜式金相顯微鏡
功能：金相組織的觀察
參數：
0~30倍連續觀察；
200倍、500倍高倍觀察；
4、傅立葉紅外光譜儀
功能：可用于研究分子結構和化學鍵，可以作為表征和鑒別有機材料類別
參數：
a. 光譜范圍：400-4000cm-1;；
b .光譜分辨率：0.4-64 cm-1；
c. 附件：透射、衰減全反射；
d. 樣品類型：固體、液體、粉末；
