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局部放電測(cè)試儀測(cè)試過(guò)程全面注解
閱讀：1550 發(fā)布時(shí)間：2021-8-2顯示完開(kāi)機(jī)界面后直接進(jìn)入測(cè)量界面，如圖五所示。局部放電測(cè)試儀測(cè)試界面分為傳感器狀態(tài)區(qū)、波形區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和柱狀圖區(qū)。
傳感器狀態(tài)區(qū)。傳感器的選擇可以通過(guò)“F3"鍵來(lái)選擇，標(biāo)準(zhǔn)配置的傳感器類型有：超聲波傳感器（UA）、地電波傳感器（TEV）等，連續(xù)按“F3"鍵會(huì)在以上傳感器之間選擇。
注意：需要連接上對(duì)應(yīng)的傳感器后才能測(cè)量到對(duì)應(yīng)傳感器的數(shù)據(jù)。
局部放電測(cè)試儀波形區(qū)主要顯示儀器采集到的放電信號(hào)波形，此波形在超聲測(cè)量模式下以射頻信號(hào)的方式顯示，而在地電波模式下則以電平的方式顯示。TEV地電波測(cè)量界面如圖2所示：
柱狀圖區(qū)。柱狀圖是用來(lái)表明當(dāng)前局部放電的嚴(yán)重程度，用綠色、橙色及紅色表示，綠色表示局部放電比較輕微，黃色表示有放電現(xiàn)象，設(shè)備需要檢查，紅色表示局部放電比較嚴(yán)重，設(shè)備需要檢修。
2、 超聲波測(cè)量程序
使用超聲波傳感器測(cè)量信號(hào)時(shí)，需要選擇對(duì)應(yīng)的傳感器類型，本產(chǎn)品具有記憶上一次狀態(tài)設(shè)置的功能，開(kāi)機(jī)時(shí)會(huì)自動(dòng)調(diào)用上次關(guān)機(jī)時(shí)傳感器的狀態(tài)，并測(cè)量環(huán)境值，準(zhǔn)備就緒后即可測(cè)量局部放電值，因此，局部放電測(cè)試儀在開(kāi)機(jī)時(shí)請(qǐng)勿將傳感器指向被測(cè)區(qū)域，以免將被測(cè)區(qū)域的放電信號(hào)誤測(cè)為環(huán)境值。
開(kāi)啟儀器，按“F3"鍵進(jìn)入超聲波模式，如果讀數(shù)太大，比如超過(guò)15dBuV，說(shuō)明此事背景噪聲太大，可以按左方向鍵濾除背景噪聲。
背景噪聲濾除后正式進(jìn)入測(cè)量程序，此時(shí)插入提供的耳機(jī)，讀數(shù)會(huì)在顯示屏上連續(xù)更新。局部放電檢測(cè)儀開(kāi)始時(shí)，應(yīng)該將增益調(diào)整到較大位置，當(dāng)讀數(shù)變得太大時(shí)，則應(yīng)該減少增益。也可以根據(jù)右下側(cè)的箭頭標(biāo)志來(lái)確定是增加增益還是減小增益，綠色箭頭表示此時(shí)增益可以增加，如果顯示的是紅色箭頭則說(shuō)明信號(hào)過(guò)大，需要減小增益。
3、TEV測(cè)量程序
背景噪聲
開(kāi)關(guān)柜局部放電測(cè)試儀外部的一些信號(hào)源發(fā)出的電磁信號(hào)也可能在開(kāi)關(guān)柜的外部產(chǎn)生瞬時(shí)接地電壓。這些源可以是架空線絕緣子、變壓器進(jìn)線套管、無(wú)線電信號(hào)甚至是附近高速公路的車流量。這些也可以在不連接到開(kāi)關(guān)柜的金屬體如變電站房門或圍欄等金屬體上產(chǎn)生瞬時(shí)接地電壓信號(hào)。因此在對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行檢測(cè)之前，就應(yīng)該測(cè)量這些表面上的背景噪聲。測(cè)量不屬于開(kāi)關(guān)柜組成部分的金屬體如金屬門、金屬圍欄等的背景噪聲。記下三次連續(xù)的有關(guān)金屬體的分貝值和計(jì)數(shù)，并取中間幅值的讀數(shù)作為背景測(cè)量的讀數(shù)。
儀器開(kāi)啟，確保TEV傳感器處在離開(kāi)金屬體的自由空間中，否則會(huì)影響自檢。選擇TEV模式。為了準(zhǔn)確測(cè)量，應(yīng)該使TEV探頭垂直地與在其上面要進(jìn)行測(cè)量的金屬體接觸，（最好是保持儀器主機(jī)本體遠(yuǎn)離鄰近的金屬體）。一旦TEV探頭從金屬體上拆下后讀數(shù)就不再在顯示屏上繼續(xù)顯示。
4、歷史數(shù)據(jù)查看
局部放電檢測(cè)儀在測(cè)量界面下按“F1"鍵用于數(shù)據(jù)保存，磁盤圖標(biāo)右側(cè)的數(shù)字表明當(dāng)前存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的組數(shù)，您可以保存1000組數(shù)據(jù)。如需查看只需要按下“F2"鍵即可，通過(guò)上下鍵實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的翻頁(yè)，按下“F3"鍵可以回到測(cè)試界面。