EM TIC 3X徠卡三離子束切割儀

幾乎任何材質樣品都可獲得高質量截面，在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部真實結構信息，在使用徠卡EM TIC3X之前，這類工作從未變得如此之簡單。

徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復合、帶有孔縫結構、熱敏感性、脆性及非均質樣品，獲得樣品截面，從而進行掃描電子顯微鏡（SEM），微區分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM，SPM)檢測。

三離子束（分別獨立控制），冷凍樣品臺及多樣品臺，確保離子束對樣品處理高效，切割區域寬且深，從而獲得高質量截面切割結果。

適用于SEM微區分析(EDS, WDS, EBSD, CL) 及AFM分析

EM TIC 3X徠卡三離子束切割儀

新離子束原理（EM TIC3X ）

三個離子束從不同的角度同時轟擊樣品
樣品固定不動
切割深度 >1mm
切割寬度 > 4mm!

傳統離子束原理 (W. Hauffe, 1976)
一個離子束
樣品部分被遮擋
樣品需要擺動
樣品未被遮擋的區域被離子束轟擊

EM TIC 3X徠卡三離子束切割儀 的技術特點

1、便捷操作：*樣品轉載對中設計，儀器觀察窗口標配徠卡原裝高級體視顯微鏡，方便樣品裝載和實時觀測加工過程！在離子束切割過程中，可不破真空調整樣品。

2、導熱性能優異：截面切割時，三把寬束離子槍加工，離子束束斑寬，對樣品沖擊更弱，可控制樣品加工區域在70攝氏度以下。

3、超大樣品裝載尺寸和加工面積：徠卡TIC3X截面切割的尺寸可達4mm x1 mm，一次切割寬度是競爭對手產品的3倍左右；平面拋光區域大直徑25mm，總拋光面積是競爭對手產品的6倍左右。

4、離子束損傷小：采用三把寬束離子槍切割，樣品加工表面離子損傷小，極少出現離子劃痕現象。

5、做鐵磁性樣品不會污染離子槍：TIC3X的離子槍采用鞍型場槍結構，內部不含磁鐵，不會吸引鐵磁性樣品拋光碎屑而造成頻繁短路情況。