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鍍錫鍍銀X-RAY膜厚儀無損測厚儀

銅上鍍銀測量范圍：0.1-60um

銅上鍍錫測理范圍：0.3-60um

韓國測厚儀Micropioneer

XRF-2020?/XRF-2000

儀器規格型號如下圖

韓國Microp測厚儀XRF-2020

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

儀器特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

功能及應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

韓國測厚儀Micropioneer

XRF-2020

儀器整機*，配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量

鍍錫鍍銀X-RAY膜厚儀無損測厚儀

銅上鍍銀測量范圍：0.1-60um

銅上鍍錫測理范圍：0.3-60um